NE时代

近日，忱芯科技自主研发的Steinmetz系列SiC MOSFET动态可靠性量产测试系统顺利完成交付。该系统专为产线级动态可靠性测试打造，全面符合AQG324测试标准，以灵活架构、突出性能及高度自动化集成，精准攻克量产测试在效率、精度、安全与灵活性方面的痛点，为客户提供覆盖多场景、多封装的产线级动态测试解决方案。

灵活架构设计，适配多元测试需求

系统采用抽屉式模块化架构，支持1~4层独立抽屉单元灵活配置，DHTGB与DHTRB通道独立分区，杜绝测试干扰。可兼容TO247-3/4封装分立器件、半桥（DCM）、全桥（HPD）等主流封装产品，可在单台设备上实现多封装类型的高通量并行测试，最大化提升产线测试效率。

四大核心亮点，夯实测试质效底线

01

精准可调的高dv/dt及高工作频率

全面符合AQG324 汽车级测试标准，搭载门极智能调控技术，实现高 dv/dt 连续可调且支持软件自由配置。支持更高频率下的热边界效应测试，允许任意占空比设定，为高频、高动态工况下的可靠性验证提供坚实保障。

02

支持In-situ DUT全面静态测试检测

支持扩展高精度源表，可完成Igss、Idss、Vth、Rdson、Vsd、Vbr等静态参数基础测试。支持全工位波形抓取，实时监控DUT静态参数及电应力状态，确保测试过程数据完整可追溯。

03

精准、实时的DUT温度检测

依托自研结温估算算法，实时跟踪DUT的壳温和结温变化，为老化过程的精准监控提供数据支撑，确保老化测试的一致性与可重复性。

04

高安全性与高可靠性系统设计

每个DUT均独立配置过温、过压、过流三重保护功能，保护阈值可根据测试需求灵活设定。采用热源隔离设计，有效降低部件老化风险。整机配备完善的断电保护机制，保障设备连续运行的长期稳定性。

高度自动化集成，智能适配量产产线

针对SiC MOSFET模块量产的动态可靠性测试需求，系统可无缝对接全自动上下料系统，支持模块快换，可自由切换全自动/半自动工作模式，适配不同产能规划。通过软件控制可实现各测试工序独立可控，负载柜支持统一或单独下发参数，全部工位dv/dt独立可调。内置上电自测、故障隔离功能，搭配可灵活选配的静态测试方案，以高性价比实现量产测试智能化，有效降低客户测试投入成本。

此次Steinmetz系列SiC MOSFET动态可靠性量产测试系统的成功交付，是忱芯科技在动态可靠性测试领域的又一重要成果。未来，忱芯科技将深耕SiC、GaN测试领域，持续迭代高精度、高稳定性、智能化的测试设备，助力客户缩短产品验证周期、提升产线良率，共筑功率半导体测试新生态。